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Viernes, 30 septiembre 2011
Nanotecnología

Nuevo y potente microscopio de rayos X que no usa lente

Han creado un nuevo tipo de microscopio de rayos X que permite observar dentro de los materiales y distinguir detalles de hasta 1 nanómetro.

Pero eso no es todo. Lo más llamativo en este nuevo microscopio de rayos X es que las imágenes no son producidas por una lente sino por medio de un sofisticado software.

El algoritmo de este programa informático es capaz de convertir los patrones de difracción producidos por los rayos X que rebotan de las estructuras nanométricas y convertirlos en imágenes observables.

El singular microscopio ha sido desarrollado por el equipo de Oleg Shpyrko, Eric Fullerton y Ashish Tripathi, de la Universidad de California en San Diego.

Una aplicación inmediata de la tecnología subyacente en este microscopio de rayos X sin lente es el desarrollo de dispositivos más pequeños y con mayor capacidad para el almacenamiento de datos digitales.

Esto podría traducirse en una vía de diseño para lograr discos duros de ordenador que alberguen más información en un espacio menor. En cierto sentido, con la nueva tecnología será posible observar directamente los bits.

El desarrollo en este campo también debiera ser inmediatamente aplicable a otras áreas de la nanociencia y la nanotecnología.

[Img #4510]
Para el avance de la nanociencia y la nanotecnología, se necesita conocer a fondo cómo se comportan los materiales a escala nanométrica. Es imprescindible poder fabricar estructuras de modo controlable hasta el mínimo detalle si se pretende crear dispositivos magnéticos mucho más avanzados que los actuales para el almacenamiento de datos, o aparatos nanométricos destinados a aplicaciones igualmente ambiciosas en la biología o la química. Y para lograr ese nivel de control y supervisión en la fabricación, se necesita captar imágenes nanométricas con una resolución adecuada. Esta nueva técnica permite hacer eso; observar el interior de objetos y hacerlo con resolución nanométrica.


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